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1

Recent evolution of HVEM in France

Bernard Jouffrey

Journal:

Ultramicroscopy

Année:

1991

Langue:

english

Fichier:

PDF, 834 KB

english, 1991

2

EELS microanalysis of polycrystalline silicon thin films for solar cells grown at low temperatures

Michael Stöger, Michael Nelhiebel, Peter Schattschneider, Viktor Schlosser, Alexander Breymesser, Bernard Jouffrey

Journal:

Solar Energy Materials and Solar Cells

Année:

2000

Langue:

english

Fichier:

PDF, 238 KB

english, 2000

3

Definition of a corrected magnetic prism spectrometer for electron microscopy

José-Philippe Perez, Jean Sevely, Bernard Jouffrey

Journal:

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research

Année:

1981

Langue:

english

Fichier:

PDF, 164 KB

english, 1981

4

Etude au microscope electronique des phenomenes de transition de phases dans des monocristaux d'oxyde V2O3 pur et dope au chrome

Jean Claude Launay, Michel Pouchard, René Ayroles, Bernard Jouffrey

Journal:

Materials Research Bulletin

Année:

1975

Fichier:

PDF, 592 KB

1975

5

Long ropes of boron nitride nanotubes grown by a continuous laser heating

Laude, Thomas, Matsui, Yoshio, Marraud, Alain, Jouffrey, Bernard

Journal:

Applied Physics Letters

Année:

2000

Langue:

english

Fichier:

PDF, 734 KB

english, 2000

6

Local Field Effects in the Electron Energy Loss Spectra of Rutile

Vast, Nathalie, Reining, Lucia, Olevano, Valerio, Schattschneider, Peter, Jouffrey, Bernard

Journal:

Physical Review Letters

Année:

2002

Langue:

english

Fichier:

PDF, 204 KB

english, 2002

7

A geometrical study of single-walled nanotube ropes by transmission electron microscopy

Hamon, Ann-lenaig, Marraud, Alain, Jouffrey, Bernard

Journal:

Philosophical Magazine B

Année:

2001

Langue:

english

Fichier:

PDF, 3.64 MB

english, 2001

8

[Advances in Imaging and Electron Physics] Microscopy, Spectroscopy, Holography and Crystallography with Electrons Volume 123 || Ionization edges: Some underlying physics and their use in electron microscopy

Jouffrey, Bernard

Année:

2002

Langue:

english

Fichier:

PDF, 4.43 MB

english, 2002

9

On the validity of the column approximation in electron microscopy

Jouffrey, Bernard, Taupin, Daniel

Journal:

Philosophical Magazine

Année:

1967

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.27 MB

english, 1967

10

[Advances in Imaging and Electron Physics] Volume 96 || 2.5 Electron Microscopy in France

Jouffrey, Bernard

Année:

1996

Langue:

english

Fichier:

PDF, 2.02 MB

english, 1996

11

[Advances in Imaging and Electron Physics] Volume 159 || Chapter 8 On the High-Voltage STEM Project in Toulouse (MEBATH)

Jouffrey, Bernard

Année:

2009

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.91 MB

english, 2009